Tecnología de tomografía computarizada de rayos X 3D
¿Qué necesita saber para el análisis de componentes del conjunto de tomografía computarizada?
Análisis de los componentes del conjunto de tomografía computarizada
Los sistemas de escaneo TC de metrología utilizan tecnología de rayos X para penetrar las superficies de los objetos sin causarles daño, lo que permite una visión clara de sus estructuras internas. Este método permite un análisis preciso de las dimensiones internas y la disposición de los componentes dentro de un objeto.
Análisis de ensamblaje 3D de componentes plásticos.

Visor de volumen de TC
Análisis de imágenes internas de productos.

Análisis de vídeo en capas de productos electrónicos.